영-과잉 음이항 회귀

특허 인용·발명 카운트 같은 카운트 종속변수 에 (a) 과분산 (mean << variance) 와 (b) 0 값 과잉 (zero inflation, 분포에 예상보다 많은 0) 이 동시에 나타날 때 적합한 모형. 음이항 회귀 의 확장.

구조: (i) logistic 부분이 “structural zero” 와 “potential count” 를 분리, (ii) negative binomial 부분이 potential count 분포를 추정. 특허 분석에서 인용이 한 번도 일어나지 않는 특허가 다수일 때 유리.

See also

• 음이항 회귀
• 영-과잉 회귀
• 영변환 음이항 모형
• 특허 분석
• The impact of convergence between science and technology on innovation